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      TA610/TA620/TA630測量平臺
      產品型號:TA610/TA620/TA630
      簡介介紹:

      時代TR2系列粗糙度儀配件:TA610\620\630\631 測量(微調)平臺:TA610測量平臺,齒條升降,立柱可以隨意轉動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。TA620測量平臺,絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量平臺。TA630微調平臺,X—Y平面轉角,俯仰角。TA631微調平臺,X—Y平面轉角。TA630、631都用來較小幅度的,**調整被測量工件的位置

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      詳情介紹


      上圖為TA610測量平臺

      齒條升降,立柱可以意轉動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。
      花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
      花崗巖平臺大小尺寸:400mm×250mm×70mm
      垂直升降高度:270mm
      垂直升降微調量:20mm
       




      上圖為TA620測量平臺

      絲桿升降,平臺上設置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度。
      花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
      花崗巖平臺大小尺寸:400mm×250mm×70mm
      垂直升降高度:300±1mm
      升降回程誤差:≤手輪旋轉1/6圈

       

      上圖為:TA630微調平臺
      X—Y平面轉角,俯仰角。
      調整范圍:X向 ±12.5mm  Y向:±12.5mm
      旋轉角度:粗調 360 微調±5 俯仰角度 0~5



       

       

      上圖為:TA631微調平臺
      X—Y平面轉角。
      調整范圍:X向 ±12.5mm  Y向:±12.5mm
      旋轉角度:粗調 360  微調±5

                                       

       



       

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